高低温冷热冲击试验箱 电子产品测试专为电子产品可靠性测试设计，通过模拟温度剧变环境，验证产品在快速温变下的物理性能与电气稳定性。设备采用两箱或三箱结构，支持高温、低温及冲击循环模式，适用于从元器件到整机的全阶段测试。

高低温冷热冲击试验箱 电子产品测试生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

产品详情
高低温冷热冲击试验箱专为电子产品可靠性测试设计，通过模拟温度剧变环境，验证产品在快速温变下的物理性能与电气稳定性。设备采用两箱或三箱结构，支持高温、低温及冲击循环模式，适用于从元器件到整机的全阶段测试。

高低温冷热冲击试验箱 电子产品测试

用途
主要用于检测电子元件、PCB板、集成电路、手机、电源模块等产品在温度冲击下的抗裂性、焊点可靠性、电气参数漂移及封装密封性，提前暴露设计或工艺缺陷。

技术参数

• 温度范围：-65℃～+150℃（可调）

• 冲击恢复时间：≤5分钟（负载下）

• 温度转换时间：≤10秒（提篮或风门切换）

• 温度均匀度：±2℃

• 温度波动度：±0.5℃

• 内箱容积：50L、80L、150L、225L等可选

• 负载能力：依型号，通常5～30kg铝锭等价发热量

箱体结构与材质

• 外箱：冷轧钢板喷塑处理，耐腐蚀易清洁

• 内箱：SUS304不锈钢，圆角设计避免积尘

• 保温层：高密度聚氨酯或玻璃纤维棉，耐温阻燃

• 提篮/风门驱动：气动或电动，动作快速平稳

• 观察窗：三层真空隔热玻璃，带加热膜防凝露

工作原理
采用“高温区+低温区+测试区"三箱式或“高温/低温两箱对移"结构。通过气动风门切换或提篮移动，使测试样品瞬间暴露于设定高温或低温气流中，形成猛烈温度冲击。控制器按预设循环数（如-40℃/30min→+85℃/30min）自动切换，模拟产品在昼夜温差、设备启停等真实场景下的耐受能力。

满足标准

• GB/T 2423.22（环境试验 第2部分：试验N：温度变化）

• IEC 60068-2-14（基本环境试验规程 试验N：温度变化）

• MIL-STD-810G（Method 503.6 温度冲击）

• JESD22-A104（电子器件温度循环标准）

应用领域

• 消费电子：手机、平板、可穿戴设备

• 汽车电子：ECU控制器、车机屏幕、传感器

• 工业控制：PLC、工控主板、电源模块

• 半导体：芯片、封装器件、LED

• 航空航天：航电系统、通信模块