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  • TEC-408PF双85老化箱 恒温恒湿快速温变试验箱

    双85老化箱 恒温恒湿快速温变试验箱主要用于检测产品在高湿高温老化环境下的性能稳定性,以及在恒温恒湿、快速温变条件下的耐受能力。可提前暴露产品因湿热老化导致的材质劣化、性能衰减,或因温度骤变引发的结构损坏、功能故障等问题,助力企业筛选不合格产品,保障产品在户外湿热、室内恒温及温度波动场景下的使用可靠性。

    更新时间

    2025-09-29

    设备型号

    TEC-408PF

    浏览量

    538

  • TEB-408PF快速温变试验箱 电子芯片温度循环设备

    快速温变试验箱 电子芯片温度循环设备是专为电子芯片设计的温度循环测试设备,专注模拟电子芯片在实际应用中面临的温度交替环境,通过精准控温与循环测试,验证芯片耐受温度变化的能力,为电子芯片质量检测与可靠性保障提供专业解决方案。

    更新时间

    2025-09-29

    设备型号

    TEB-408PF

    浏览量

    450

  • TEB-225PF快速温变试验箱 工业制品环境可靠性设备

    快速温变试验箱 工业制品环境可靠性设备是针对工业制品打造的环境可靠性测试设备,能精准模拟工业制品在实际使用中遭遇的温度骤变、循环交替等复杂环境。设备采用优质保温材料与高精度控温系统,可实现温度快速升降与稳定维持,通过持续的温变循环测试,全面检验工业制品的结构稳定性、性能耐久性与环境适应性,为工业制品出厂质检、性能优化及质量管控提供专业、可靠的测试支持,助力企业提升产品品质与市场竞争力。

    更新时间

    2025-09-29

    设备型号

    TEB-225PF

    浏览量

    487

  • TEB-800PF高低温快速温变试验箱 湿热温度变化实验箱

    高低温快速温变试验箱 湿热温度变化实验箱 适用于航空航天产品、信息电子仪器仪表、材料、电工、电子产品、各种电子元气件在高低温或湿热环境下、检验其各性能项指标。

    更新时间

    2025-08-17

    设备型号

    TEB-800PF

    浏览量

    435

  • TEB-800PF快速温变试验箱 电子芯片温度循环检测仪器

    快速温变试验箱 电子芯片温度循环检测仪器是专为电子芯片研发的温度循环检测仪器,聚焦模拟电子芯片在实际工况中的温度交替环境。通过高精度控温系统与可编程循环程序,精准复现高低温交替场景,验证芯片耐受温度变化的能力,为电子芯片质量把控、可靠性验证提供专业且高效的检测设备支持,助力芯片生产与研发环节的质量提升。

    更新时间

    2025-09-29

    设备型号

    TEB-800PF

    浏览量

    453

  • TEB-800PF可移动快速温变试验箱

    可移动快速温变试验箱是兼具灵活移动性与精准温变测试功能的设备,机身配备高强度万向轮与制动装置,方便在实验室、生产车间等场景灵活转移。设备采用紧凑式结构设计,在保证温变性能的同时减少占地空间,搭配优质保温层与高精度控温系统,可实现快速温度升降与稳定循环,为需要多场景测试的产品提供便捷、可靠的环境可靠性检测支持。

    更新时间

    2025-09-29

    设备型号

    TEB-800PF

    浏览量

    432

  • TEB-600PF高低温快速循环箱 风冷快温变试验箱

    高低温快速循环箱 风冷快温变试验箱 适用于电子、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,测试各种材料对高、低温的反复抵拉力,试验产品于热涨冷缩产生的物理伤害或化学变化,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的认同。

    更新时间

    2025-08-17

    设备型号

    TEB-600PF

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    415

  • TEB-600PF快速温变试验箱 电子元器件循环测试设备

    快速温变试验箱 电子元器件循环测试设备是专为电子元器件打造的循环测试设备,核心功能是模拟电子元器件在不同应用场景下的温度循环环境。设备搭载智能温控模块与多段循环程序,可精准调控高低温切换节奏,真实还原元器件在运输、存储、使用过程中的温度变化情况,为电子元器件的质量检测与可靠性评估提供科学依据,助力企业提升元器件生产合格率,降低后续应用故障风险。

    更新时间

    2025-09-29

    设备型号

    TEB-600PF

    浏览量

    409

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