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高低温冷热冲击试验箱 半导体

高低温冷热冲击试验箱 半导体
设备用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时的适应性试验;是各类电子、电工、电器、塑胶、光纤、LCD、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐湿、耐干性试 验及品管工程的可靠性测试设备。

  • 产品型号:TSD-80F-2P
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-07-09
  • 访  问  量:168
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详细介绍

高低温冷热冲击试验箱 半导体

优势:

①具有稳定、平衡的加热、加湿性能,可进行高精度、高稳定的温湿度控制。

②制冷回路自动选择,自控装置具有随温度的设定值自动选择运转制冷回路的性能。

③实现高温状态下直接启动制冷机,直接降温。

④内门装有大观察窗,可方便观察供试样品的试验状态。

⑤装有先进的安全、保护装置-漏电断路器、 超温保护器,缺相保护器,断水保护器。

高低温冷热冲击试验箱 半导体

结构材质:

1、外壳均采用( t= 1.2mm ) A3钢板数控机床加工成型,外悦表面进行喷塑处理,更显光洁、美观.

2、内胆为进口( SUS304 )镜面不锈钢板;

3、保温材质:高密度玻璃纤维棉.保温厚度为100mm;

4、搅拌系统:采用长轴风扇电机,耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强度对流垂直扩散循环;

5、门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭;

6、采用无反作用门]把手,操作更容易;

7、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮;

8、观察窗采用多层中空钢化玻璃内侧胶合片式导电膜(可清楚观察试验过程) ;

9、测试孔(机器左侧)可外接测试电源线或信号线使用(孔径或孔数须增加需指示);

执行标准:

GB10589-2006 低温试验箱技术条件

GB10592-2006-40℃高低温实验箱技术条件

GB11158-2006 高温试验箱技术条件

GB/T2423.1-2001 试验A:低温试验方法

GB/T2423.2-2001 试验B:高温试验方法

GB/T5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法

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