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高低温温热试验箱电子元器件可靠性测试设备

高低温温热试验箱电子元器件可靠性测试设备
本高低温温热试验箱专为电子元器件可靠性测试量身打造,是一款集高精度温度控制、精准湿度调节功能于一体的专业环境测试设备。通过模拟高低温及复杂湿度环境,对电子元器件进行严苛测试,帮助企业精准把控产品质量,提前暴露潜在缺陷,有效降低后期使用故障率,提升产品在市场中的可靠性与竞争力。

  • 产品型号:THC-800PF
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-04-25
  • 访  问  量:316
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详细介绍

高低温温热试验箱电子元器件可靠性测试设备


一、产品详情

本高低温温热试验箱专为电子元器件可靠性测试量身打造,是一款集高精度温度控制、精准湿度调节功能于一体的专业环境测试设备。通过模拟高低温及复杂湿度环境,对电子元器件进行严苛测试,帮助企业精准把控产品质量,提前暴露潜在缺陷,有效降低后期使用故障率,提升产品在市场中的可靠性与竞争力。
试验箱采用智能控制系统,可实现温度、湿度的快速稳定调节与长时间精确保持,具备超温、超湿、漏电等多重安全保护机制,保障测试过程安全可靠。同时,配备人性化操作界面与数据记录功能,方便用户进行参数设置、试验监控及数据导出分析,大幅提升测试效率与数据管理水平。



高低温温热试验箱电子元器件可靠性测试设备

二、用途

  1. 高温可靠性测试:模拟电子元器件在高温环境下(如电子设备内部散热不良、高温工作场所等)的运行状态,检测其耐高温性能、电气参数稳定性,判断元器件是否会因高温出现性能下降、材料变形、焊点熔化等问题。

  1. 低温可靠性测试:模拟低温环境(如寒冷地区户外设备、冷链运输设备等),评估电子元器件在低温条件下的工作性能,如电容、电池的容量变化,芯片的运行速度与稳定性,确保元器件在低温环境下仍能正常工作。

  1. 湿热测试:模拟高湿度环境,如潮湿的南方地区、沿海高盐雾环境等,测试电子元器件的防潮、防腐蚀性能,检测是否会因湿气侵入导致短路、氧化、绝缘性能下降等问题。

  1. 温度循环测试:通过在不同温度区间快速循环切换,模拟电子元器件在实际使用中可能经历的温度骤变场景(如设备频繁启动、环境温度剧烈变化),检测元器件内部结构的热应力承受能力,发现因热胀冷缩产生的潜在裂纹、接触不良等缺陷。

  1. 温湿度综合测试:同时控制温度和湿度的变化,模拟更为复杂的实际环境(如热带雨林、沙漠等气候条件),全面评估电子元器件在多种环境因素综合作用下的可靠性与稳定性。

高低温温热试验箱电子元器件可靠性测试设备


三、技术参数

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项目
参数详情
温度范围
-70℃ ~ +150℃(可定制)
温度波动度
±0.5℃
温度均匀度
≤2℃
湿度范围
20% ~ 98% RH(温度≥25℃)
湿度波动度
±2% ~ 3%RH
升温速率
1.0℃/min ~ 5.0℃/min(非线性空载)
降温速率
0.7℃/min ~ 1.2℃/min(非线性空载)
时间设定范围
0 ~ 9999 小时
电源要求
AC380V±10% 50Hz 三相五线制
功率
根据箱体容积及性能要求而定
安全保护功能
超温保护、超湿保护、漏电保护、压缩机过载保护、相序保护、缺水保护等

高低温温热试验箱电子元器件可靠性测试设备


四、箱体结构与材质

  1. 外箱材质:采用优质冷轧钢板,表面经静电喷塑处理,颜色可选,具有良好的防锈、耐腐蚀性能,同时提升外观质感,使箱体坚固耐用且易于清洁维护。

  1. 内箱材质:选用 SUS304 不锈钢板,具有无毒、无味、耐腐蚀、耐高温等特点,确保试验箱内部环境洁净无污染,不会对电子元器件测试造成干扰,同时便于观察箱内试验情况。

  1. 保温材质:采用高密度聚氨酯发泡材料与超细玻璃纤维棉,双层保温结构设计,保温性能优异,有效减少热量传递,降低能耗,同时防止试验箱外表面结露,确保设备运行安全。

  1. 门体结构:采用双层钢化玻璃观察窗,方便用户在不打开箱门的情况下清晰观察箱内试验状态,减少箱内环境波动;门体四周加装耐高温、耐低温、耐老化的硅橡胶密封条,保证良好的密封性,防止箱内温湿度外泄。


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