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快速温变试验箱 温度传感器高低温性能验证

快速温变试验箱 温度传感器高低温性能验证用于验证温度传感器在高低温环境下的测量误差;检测快速温变过程中传感器的响应时间;评估长时间高低温循环后的性能稳定性;测试传感器外壳及内部元件的耐温可靠性;为优化传感器设计与制造工艺提供数据支持,提升产品在复杂环境中的适用性。

  • 产品型号:TEB-225PF
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-06-05
  • 访  问  量:328
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详细介绍

快速温变试验箱 温度传感器高低温性能验证

产品详情

本快速温变试验箱专为温度传感器高低温性能验证打造,可模拟 - 70℃至 150℃温度环境,以 15℃/min 的温变速率实现快速温变冲击与循环测试。设备通过智能控制系统与高精度温控装置,精准检测传感器在不同温度工况下的测量精度、响应速度与稳定性,助力企业高效完成产品质量验证,加速研发进程。



快速温变试验箱 温度传感器高低温性能验证

用途

用于验证温度传感器在高低温环境下的测量误差;检测快速温变过程中传感器的响应时间;评估长时间高低温循环后的性能稳定性;测试传感器外壳及内部元件的耐温可靠性;为优化传感器设计与制造工艺提供数据支持,提升产品在复杂环境中的适用性。
技术参数
  • 温度范围:-70℃ ~ 150℃(可定制)

  • 温变速率:15℃/min(线性升降温)

  • 温度均匀度:±1.5℃(空载)

  • 温度波动度:±0.5℃

  • 湿度范围:20% ~ 98% RH(可选)

  • 工作室尺寸:400×500×400mm(支持定制)

  • 符合标准:GB/T 2423、IEC 60068 等规范



基本结构

设备由试验箱体、制冷制热系统、温湿度控制系统、样品架及智能控制单元构成。箱体采用双门三层设计,内层 SUS304 不锈钢耐高温耐腐蚀,中层聚氨酯保温,外层冷轧钢板防锈;制冷制热系统采用二元复叠制冷与 PID 控温,确保温变高效稳定;样品架可灵活调节,适配多种规格传感器;7 寸触摸屏实现程序编辑与数据实时记录。
工作原理
利用压缩机制冷与电加热丝制热,结合智能 PID 温控算法,实现箱内温度快速升降与精准控制。设定温变程序后,系统自动调节制冷 / 制热功率,快速达到目标温度并恒温。试验中实时采集传感器输出数据,对比标准值,分析其性能变化。
应用场景
在汽车行业,用于验证发动机、电池包温度传感器在工况下的可靠性;工业领域,检测自动化设备传感器在高温熔炉、低温冷库环境中的性能;医疗行业,确保医疗设备温度传感器在不同使用场景下的测量精度;航空航天领域,测试机载传感器在高空温度下的稳定性。
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