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产品分类
Cassification
精密快速温变试验箱 电子元件测试设备是一种模拟快速变化温度环境的高可靠性测试设备。它主要用于评估电子元器件、PCB电路板、模块及整机等在严苛温度条件及其变化下的耐受能力和工作稳定性。通过加速方式暴露产品因温度应力导致的潜在缺陷,如材料老化、焊接点开裂、性能漂移等,是提升产品质量与可靠性的关键工具。
产品型号:TEB-225PF
厂商性质:生产厂家
更新时间:2025-11-12
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精密快速温变试验箱 电子元件测试设备
产品详情与用途
精密快速温变试验箱是一种模拟快速变化温度环境的高可靠性测试设备。它主要用于评估电子元器件、PCB电路板、模块及整机等在严苛温度条件及其变化下的耐受能力和工作稳定性。通过加速方式暴露产品因温度应力导致的潜在缺陷,如材料老化、焊接点开裂、性能漂移等,是提升产品质量与可靠性的关键工具。
技术特点与产品特点
温变速率:采用制冷和加热技术,可实现高达15°C/min至20°C/min,甚至更高的线性或非线性快速温变,精准模拟严酷环境。
温度控制精度:采用高精度PID智能算法,确保箱内温度均匀性和控制精度,通常温度偏差可稳定在±0.5°C以内,保证测试数据的准确性与可重复性。
宽广的温度范围:覆盖-70°C至+150°C(或更广)的宽泛温度区间,满足从寒冷到高温酷暑的各种测试需求。
高可靠性与稳定性:核心部件如压缩机、循环风机、控制器等均采用国际品牌,确保设备能够长时间连续稳定运行,故障率低。
智能控制系统:配备大尺寸彩色触摸屏和直观的用户界面,可编程复杂的多段温变曲线,支持远程控制和实时数据记录与导出功能。


精密快速温变试验箱 电子元件测试设备
结构设计
箱体结构:采用高品质不锈钢内胆,外壁为优质冷轧钢板并喷涂防腐塑粉,坚固耐用。整体采用无反作用把手,美观且便于开关。
保温设计:采用高性能聚氨酯泡沫保温材料,厚度充足,有效减少热量损失,提升能效并确保箱体外部温度安全。
空气循环系统:特殊设计的风道结构和大功率离心风机,形成均匀稳定的气流,保证工作室内各点温度的高度一致性。
核心制冷/制热系统:采用复叠式或二元式制冷系统,搭配大功率加热器,实现快速降温和升温。系统布局合理,便于维护。
测试引线孔:箱体标配引线孔,方便用户在测试过程中为样品通电或连接监控设备,进行实时性能监测。
技术参数
温度范围:-70°C ~ +150°C
升温速率:+5°C/min ~ +20°C/min (可按需定制)
降温速率:-5°C/min ~ -20°C/min (可按需定制)
温度波动度:±0.5°C
温度均匀度:±2.0°C (按国标测试)
内箱容积:标准80L~1000L或定制
控制器:7英寸及以上彩色触摸屏,可编程控制器



应用领域
该设备广泛应用于所有对电子产品质量有高要求的行业:
汽车电子:发动机控制单元(ECU)、车载信息娱乐系统、传感器、电池管理系统(BMS)等的环境适应性测试。
航空航天:机载通信设备、导航系统、控制模块的可靠性验证。
通信设备:5G基站设备、光模块、交换机、路由器等。
消费电子:智能手机、笔记本电脑、可穿戴设备。

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