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电子电器高低温试验箱 元器件耐候性测试主要用于检测电阻、电容、晶体管等电子元器件在高低温环境下的性能稳定性与可靠性,验证其抗老化、耐温差、耐潮湿能力。适用于电子电器研发、生产、质检等环节,帮助企业提前暴露元器件潜在缺陷,优化产品设计,确保电子产品在极寒、高温、高湿等复杂环境中稳定运行。
联系电话:0769-81085056
电子电器高低温试验箱 元器件耐候性测试
一、产品详情
电子电器高低温试验箱 元器件耐候性测试
三、技术参数
温度范围:-70℃~150℃
温度波动度:±0.5℃,均匀度 ±2℃
升降温速率:5℃/min - 15℃/min(可定制)
湿度范围:20%~98% RH(选配),湿度波动度 ±2% RH
内胆尺寸:500×600×500mm(支持非标定制)
电源:AC380V±10%,50Hz
安全保护:超温报警、压缩机过载保护、漏电保护、缺水保护(加湿款)
五、加湿系统(选配)
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联系邮箱:1835382008@qq.com
公司地址:广东省东莞市常平镇常平中信路101号1号楼102室
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