小型恒温恒湿箱 电子芯片环境老化测试仪

小型恒温恒湿箱 电子芯片环境老化测试仪

产品详情

本产品是一款专为电子芯片、精密元器件等小体积样品设计的高精度小型恒温恒湿试验箱，同时也被称为电子芯片环境老化测试仪。它通过模拟并加速严苛的温度、湿度环境，对产品的可靠性、稳定性及寿命进行高效评估，是提升产品质量实验室设备。

用途

该设备主要用于评估电子芯片及其他产品在特定温湿度条件下的环境适应性、耐久性及可靠性。通过进行高温高湿、低温低湿、温湿度循环、恒定湿热等测试，能够快速暴露产品潜在的材料缺陷、工艺瑕疵及性能故障，为改进设计和生产工艺提供科学依据。

小型恒温恒湿箱 电子芯片环境老化测试仪

技术特点

• 高精度控制： 采用平衡调温调湿方式，确保箱内温湿度控制精确、稳定，波动度小。

• 快速响应： 小型箱体结构使得升降温、加除湿响应迅速，大大提高了测试效率。

• 人性化设计： 配备大尺寸触摸屏或智能控制器，界面友好，操作简便，可编程复杂的温湿度曲线。

• 安全可靠： 具备多重安全保护功能（如超温保护、漏电保护、风机过热保护等），确保设备及样品安全。

• 节能环保： 采用高效制冷系统和节能设计，运行噪音低，能耗小。

箱体结构与材质

• 内箱材质： 采用高级SUS304#不锈钢板，经久耐用，耐腐蚀性强，易于清洁。

• 外箱材质： 优质冷轧钢板，表面经静电喷塑处理，美观且防锈。

• 保温层： 高强度聚氨酯发泡保温材料，隔热性能优异，有效减少能量损失。

• 门密封： 双层硅橡胶密封条，确保箱体气密性，防止内外环境交换。

• 观察窗： 配备多层中空电热防霜玻璃观察窗，便于在测试过程中清晰观察样品状态。

• 测试引线孔： 箱体侧壁预留标准引线孔，方便在测试中为样品通电或连接信号线。

技术参数

应用场景与领域

• 应用场景：

• 芯片的高温高湿测试（HAST） 与高加速寿命测试（HALT）。

• PCB电路板、模块组件的温湿度循环测试。

• 晶振、传感器、存储芯片等元器件的性能评估。

• 产品的恒温恒湿储存，模拟仓储环境。

• 应用领域：

• 半导体与集成电路： 芯片设计、制造与封装测试企业。

• 通信电子： 手机、基站、路由器等通信设备制造商。

• 汽车电子： 车载娱乐系统、ECU、传感器等供应商的可靠性实验室。

• 航空航天： 机载电子设备的环控系统测试。

• 科研院所与质检机构： 进行材料研究、产品定型及质量监督检验。