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半导体高低温试验箱适用于对电工、电子及其他产品、零部件及材料进行高温或低温试验,以及高低温循环试验的环境试验箱设备。
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半导体高低温试验箱
产品特点:
3、大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且采用四层真空钢化玻璃,随时清晰地观测箱内状况。
半导体高低温试验箱
型号:THC-408PF
技术参数:
1.温度范围:-40℃~150℃
2.湿度范围:20%~98%R.H
3.温度均匀度:≤±2℃(空载时)
4.湿度均匀度:+2%-3%R.H
5.温度波动度:≤±0.5℃(空载时)
6.湿度波动度:±2%
7.温度偏差:≤±2℃
8.湿度偏差:≤±2%
9.降温速率:0.7~1.0℃/min
10.升温速率:1.0~3.0℃/min
11.时间设定范围:0~999小时
12.电源电压:380V±10%
13.设备总功率:3KW~15KW
执行标准:
GB10589-2006 低温试验箱技术条件
GB10592-2006-40℃高低温实验箱技术条件
GB11158-2006 高温试验箱技术条件
GB/T2423.1-2001 试验A:低温试验方法
GB/T2423.2-2001 试验B:高温试验方法
GB/T5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法
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