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快速温变试验箱电子元温循环老化测试专用

快速温变试验箱电子元温循环老化测试专用专为电子元件研发、生产及质检环节设计，通过模拟 - 70℃至 150℃温度环境，以每分钟 20℃的温变速率，对电阻、电容、芯片等电子元件进行高低温循环老化测试。该设备有效加速电子元件潜在缺陷暴露，提前验证其在复杂环境下的可靠性，广泛应用于电子电器、通信、汽车电子等行业，是提升产品品质的核心检测设备。

产品型号：TEB-225PF
厂商性质：生产厂家
更新时间：2025-05-20
访问量：304

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详细介绍

快速温变试验箱电子元温循环老化测试专用

一、产品概述

快速温变试验箱专为电子元件研发、生产及质检环节设计，通过模拟 - 70℃至 150℃温度环境，以每分钟 20℃的温变速率，对电阻、电容、芯片等电子元件进行高低温循环老化测试。该设备有效加速电子元件潜在缺陷暴露，提前验证其在复杂环境下的可靠性，广泛应用于电子电器、通信、汽车电子等行业，是提升产品品质的核心检测设备。

快速温变试验箱电子元温循环老化测试专用

二、基本结构

箱体系统：采用双层结构，外层为高强度冷轧钢板喷塑，内层是耐腐蚀不锈钢内胆，中间填充高效绝热材料，确保温度稳定。

制冷系统：配备双级压缩制冷机组，搭配环保冷媒，实现快速降温与深低温控制。

加热系统：采用镍铬合金加热丝，结合 PID 智能控温技术，确保升温速度与温度均匀性。

控制系统：搭载彩色触摸屏 PLC 控制系统，支持程序编程、实时数据监控与曲线绘制，操作便捷直观。

风道系统：循环风机配合风道设计，保证箱内温度场均匀分布，减少测试误差。

快速温变试验箱电子元温循环老化测试专用

三、工作原理

通过制冷压缩机与加热元件协同运作，实现温度快速升降。当需降温时，制冷系统启动，冷媒循环带走箱内热量；升温时，加热丝通电发热，配合风机循环快速提升温度。PLC 控制系统根据预设程序，精确控制制冷、加热时间与功率，结合传感器实时反馈的温度数据，形成闭环调节，确保温变速率与目标温度精准匹配，完成电子元件的高低温循环老化测试。

四、主要功能及特点

主要功能：支持多段程序编程，可自定义温度范围、温变速率、循环次数；具备数据存储与导出功能，方便后期分析；配备 USB 接口与以太网端口，实现远程监控与数据共享；内置超温、缺水、压缩机过载等多重保护，保障设备安全运行。

核心特点：温变速率快，缩短测试周期；温度控制精度达 ±0.5℃，温度均匀性≤2℃，测试结果可靠；设备稳定性强，可连续 72 小时不间断运行；人性化设计，操作界面简洁易懂，维护便捷。凭借高效、精准、稳定的性能，该试验箱成为电子元件可靠性测试的理想选择。

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