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三箱式冷热冲击试验箱 TSD系列

三箱式冷热冲击试验箱 TSD系列
适用于电子电工、航空航天、汽车摩托车、科研单位、高等院校、各种电子元气件等相关产品的零部件及材料在高温、低温、恒温环境下贮存和使用时的适应性试验，检测其各性能指标。

  • 产品型号：TSD-50F-3P
  • 厂商性质：生产厂家
  • 更新时间：2024-05-30
  • 访  问  量：176
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详细介绍

三箱式冷热冲击试验箱 TSD系列

特点:

采用圆弧造型及雾面线条处理，高质感外观，并采用平面无反作用把手，操作容易，可靠

全封闭结构，采用强力循环马达，低噪音冷冻装置:

附有防震台垫，使得机台在运转过程中能保持安静及稳定;

具有被测试件通电测试功能(负载测试);

采用飞利浦照明窗口灯、内詈耐高温除雾装置，便于观察箱内产品试验情况

具有多种保护装置，性能可靠。


三箱式冷热冲击试验箱 TSD系列

控制系统：
 
　　1、温度控制采用进口触摸按键式仪表，操作设定简单。
 
　　2、资料及试验条件输入后，控制器具有锁定功能，避免人为触摸而改变温度值。
 
　　3、具有P.I.D自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温度控制更为准确稳定。


标准:

GB5170、2、3、5、6-95《电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温、高温设备》的要求,

电工电子产品基本环境试验规程试验B:高温试验方法GB2423.2-89(IEC68-2-2);

GJB150.3(ML-STD0-810D)高温试验方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法:

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高温寿命试验

GB/T5170.2-96《温度试验设备》

GB10592-93《高、低温试验箱技术条件》

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