高低温试验箱 半导体元件温变测试仪器

高低温试验箱 半导体元件温变测试仪器

产品概述

高低温试验箱是专用于半导体元件温变测试的高精度环境模拟设备，可复现高低温交替环境，验证元器件在温度快速变化条件下的可靠性及性能稳定性。

产品用途

主要用于半导体芯片、集成电路、传感器、电子模组等产品的温度循环测试（如高低温冲击试验、恒温恒湿测试）、失效分析、寿命评估及质量控制，适用于研发、中试及大规模生产检测环节。

高低温试验箱 半导体元件温变测试仪器

产品特点

• 宽温域覆盖：支持-70℃至+150℃（可扩展）的温度范围；

• 高变温速率：升温/降温速率可达15℃/min以上，支持快速温变测试；

• 多段编程控制：可设定复杂温度曲线，模拟实际应用场景；

• 均匀温场：强制对流设计确保箱内温度分布均匀性≤±0.5℃；

• 半导体专用夹具：适配多种封装形式的元件，避免机械应力干扰。

工作原理

通过压缩机制冷系统与高效电加热系统协同工作，实现箱内温度的快速升降。控制系统根据预设程序调节冷热输出功率，并通过高精度传感器实时反馈数据，实现闭环动态调温，模拟温度冲击或渐变环境。

设备亮点

• 采用环保制冷剂及高效隔热结构，节能且符合RoHS标准；

• 具备多重安全保护（过热保护、电流过载保护、故障自诊断）；

• 支持远程监控与数据导出，兼容MES/QMS系统集成。

优势

1. 高可靠性：长期连续运行稳定，适合7×24小时无人值守测试；

2. 精准控制：PID智能算法确保温度波动≤±0.3℃；

3. 模块化设计：维护便捷，核心部件（压缩机、冷凝器）可快速更换；

4. 符合MIL-STD-883J、JESD22-A104等半导体测试标准。

注意事项

• 避免测试样品挥发腐蚀性物质，以防损伤箱体管路；

• 定期清理冷凝器滤网，保持散热效率；

• 需使用稳定电源（建议加装稳压器），避免电压波动影响设备寿命；

• 装载样品不宜超过箱体容积的2/3，确保气流循环通畅。