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冷热冲击试验箱 高低温冲击测试仪

冷热冲击试验箱 高低温冲击测试仪
该冲击试验箱为待测品动态式冷﹑热交替冲击方式,该方法为现在zui先的高低温冲击方式,广泛使用于电子零组件测试,汽车零部件,半导体,电子线路板,金属化学,材料等测试设备.试验箱后部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,试件(待测品)放置在试验箱中部。

  • 产品型号:TSD-36F-2P
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-05-29
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详细介绍

冷热冲击试验箱 高低温冲击测试仪

广泛应用于科研、军事、航空、船舶、邮电通信、汽车、摩托车、电工、化工、、电子、半导体、光电、机械等企业事业单位和学校实验室。

冷热冲击试验箱 高低温冲击测试仪

冷热冲击试验箱 高低温冲击测试仪

性能:指风冷式在室温+25℃,空载时.

1.试验槽温度使用范围:-40℃-- 150℃.

2.高温槽温度设定范围:+40℃-- +100℃.

3.高温槽升温时间RT(室温)-- +100℃约需30min(室温在+10-- +30℃时).

4.低温槽温度设定范围:-40℃-- -10℃.

5.低温槽降温时间RT(室温)--  - 40℃约需55min(室温在+10-- +30℃时).

6.温度波动度:±1.0℃.

7.温度均匀度:±2.0℃.


控制器.

1. 控制器规格:a.精度:温度±0.1℃+1digit.

b.分辨率:温度±0.1.

c.具有上下限待机及警报功能.

d.温度入力信号  T型.

e.P.I.D控制参数设定,P.I.D自动演算.

2..画面显示功能:a.采画面对谈式,无须按键输入,屏幕直接触摸选项.

b.温度设定(SV)与实际(PV)值直接显示.

c.显示故障状态及说明故障排除方法.

d.可显示目前执行程序号码,段次,剩余时间及循环次数.

e.温度程序设定值以图形曲线显示,具shi时显示程序曲线执行功能.

f.具单独程序编辑画面,可输入温度,时间及循环次数.

g.屏幕可作背光调整.

h.屏幕显示保护功能可作定时,TIMER或手动关闭设定.

3.程序容量及控制功能: a.可使用的程序组:zui大96个PATTEN即96个试验规范可设定.

b.可重复执行命令:每一个命令可达999次.

c.SEGMENTS时间设定0--99Hour59Min.

e.具有断电程序记忆,复电后自动启动并继续执行程序功能.

f.程序执行时可shi时显示图形曲线.

g.具有预约启动及关机功能.

h.具有日期,时间调整功能.

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