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  • 两箱冷热冲击测试机 可连接电脑操作设定

    两箱冷热冲击测试机 可连接电脑操作设定专为电子、汽车、航空航天等领域研发设计,通过快速切换高温、低温环境,模拟产品在温差下的性能表现,检测材料及零部件的可靠性与耐候性。设备采用双箱体独立设计,高温箱与低温箱独立控温,可实现15 秒内极速冷热转换,大幅提升测试效率。同时,支持电脑连接操作设定,用户通过专用软件即可远程控制设备参数、编辑测试程序、实时监控数据并生成专业分析报告,为科研与生产提供智能化。

    更新日期:2025-12-30
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 两厢冷热冲击试验箱:检测橡胶热胀冷缩性能

    两厢冷热冲击试验箱:检测橡胶热胀冷缩性能专为橡胶材料研发与质量检测设计,通过快速交替的高低温环境,精准模拟橡胶制品在实际使用中面临的温度变化,高效检测橡胶材料的热胀冷缩性能、耐候性及老化特性。设备可实现 -60℃至 150℃的宽温域测试,通过多次温度循环冲击,加速暴露橡胶材料因热应力导致的变形、龟裂、硬度变化等潜在缺陷,帮助企业优化橡胶配方、改进生产工艺,确保橡胶制品在汽车密封件、工业胶管、轮胎等

    更新日期:2025-12-30
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 两箱式冷热冲击试验箱 -70℃~150℃宽域测试

    两箱式冷热冲击试验箱 -70℃~150℃宽域测试专为电子元器件研发、生产及质检环节打造,能够实现 -70℃至 150℃宽温度范围的极速温变测试,精准模拟电子元器件在环境下的工作状态。设备可有效检测元器件焊点的可靠性、材料的热膨胀性能、绝缘材料的耐温性等关键指标,帮助企业提前发现因温度应力导致的接触不良、开裂、老化等潜在问题。其快速的温度转换能力与高精度控温技术。

    更新日期:2025-12-30
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • 半导体芯片冷热冲击试验箱 检测封装可靠性

    半导体芯片冷热冲击试验箱 检测封装可靠性主要用于检测半导体芯片封装的可靠性。通过施加极速的温度变化应力,能够有效激发并识别因材料不匹配、焊接疲劳、封装裂纹、接触不良等引起的早期失效,是产品质量验证、可靠性提升及寿命评估工具。

    更新日期:2026-03-14
    型号:
    厂商性质:生产厂家
  • TSD-80F-2P可移动高低温冷热冲击试验箱

    可移动高低温冷热冲击试验箱是一种专为测试产品在温度快速交替变化环境下的耐受性而设计的精密设备。其高度集成化与移动式设计,使其能够灵活部署于实验室、生产线或现场等多种场所,无需复杂的安装固定。

    更新日期:2026-02-03
    型号:TSD-80F-2P
    厂商性质:生产厂家
  • TSD-150F-2P不锈钢高低温冷热冲击试验箱

    不锈钢高低温冷热冲击试验箱是一种精密的环境可靠性测试设备。它通过模拟产品在极短时间内,经受高温和低温交替变化的严酷环境,来加速暴露产品的潜在缺陷,如材料开裂、性能失效、焊点疲劳、接触不良等。

    更新日期:2025-12-30
    型号:TSD-150F-2P
    厂商性质:生产厂家
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