可程式 两槽式冷热冲击测试箱适用于国防工业,航空工业、兵工业、自动化零组件、汽车部件、电子电器仪表零组件、电工产品、塑 胶、化工业、食品业、 BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁制药工业及相关产品等设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验（冲击）。

产品说明:

1、可程式 两槽式冷热冲击测试箱应用于半导体器件、电子产品在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验。

2、立式两箱结构，高低温箱循环过程自动控制，停留及转换时间可调，不锈钢内胆，多形式记录，设有多种安全保护措施及装置。

3、满足 MIL-STD-810D方法 032、 GB2423.22-89Na、 GJB1505-86等。

温湿度电热循环系统

1.电热循环系统：湿度采特殊防潮兼散热设计,不锈钢加长轴心循环马达。

2.循环风扇：耐高/低温铝合金多翼式循环风扇。

3.导风板设计：可程式 两槽式冷热冲击测试箱有导风板设计,有效提升温、湿度分布均匀性。

4.温度电热器控制方式：平衡式调温 P.I.D + P.W.M + S.S.R。

5.湿度电热器控制方式：平衡式调湿 P.I.D + P.W.M + S.S.R 主副双型湿度电热。

执行标准:

GB10589-2006 低温试验箱技术条件

GB10592-2006-40℃高低温实验箱技术条件

GB11158-2006 高温试验箱技术条件

GB/T2423.1-2001 试验A：低温试验方法

GB/T2423.2-2001 试验B：高温试验方法

GB/T5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法