集成电路可靠性HAST高压加速寿命试验设备它采用压力、温度与湿度综合控制系统，能够在高度受压、高温高湿的环境下对半导体器件进行加速老化测试。设备内胆采用进口耐腐蚀不锈钢材质，结构设计符合国际安全标准，配备全自动触摸屏控制系统，支持无人值守长期运行，是半导体封装测试、失效分析及质量认证领域的核心设备。

集成电路可靠性HAST高压加速寿命试验设备生产厂家广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术，一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商，皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。

产品详情

本设备为集成电路可靠性测试专用HAST（Highly Accelerated Stress Test）高压加速寿命试验箱。它采用压力、温度与湿度综合控制系统，能够在高度受压、高温高湿的环境下对半导体器件进行加速老化测试。设备内胆采用进口耐腐蚀不锈钢材质，结构设计符合国际安全标准，配备全自动触摸屏控制系统，支持无人值守长期运行，是半导体封装测试、失效分析及质量认证领域的核心设备。

集成电路可靠性HAST高压加速寿命试验设备

用途

主要用于评估集成电路、微电子器件、PCB板等在高温、高湿、高压偏压条件下的耐湿热特性及使用寿命。通过加速环境应力，快速暴露产品的潜在缺陷（如封装分层、铝腐蚀、电化学迁移等），从而在产品研发阶段或出厂前进行可靠性筛选与工艺改进验证。

技术参数

• 温度范围：+105℃ ~ +142.9℃（饱和模式）；+110℃ ~ +155℃（非饱和/干模式）

• 湿度范围：75% RH ~ 100% RH（可调）

• 压力范围：0.2 kg/cm² ~ 3.0 kg/cm²

• 偏压功能：支持最多8通道在线偏压测试（选配）

• 内箱尺寸：按容积分为35L、80L、125L、250L等多种规格

• 温湿度均匀度：±0.5℃ / ±2.5% RH

• 控制器：7英寸彩色触摸屏PLC可编程控制器

• 电源要求：AC 220V / 380V 50/60Hz

主要功能及特点

1. 双模式切换：支持饱和（Saturated）与非饱和（Unsaturated）两种测试模式，满足不同材料与结构的测试标准（如JESD22-A110、A118）。

2. 偏压在线测试：配备专用偏压测试接口，可在试验过程中对器件施加恒定或动态偏压，实时监控电性能变化。

3. 全自动控制：一键启动后，自动执行加水、升温、升压、保压、排气及干燥全过程，无需人工干预。

4. 多重安全防护：具备超温保护、超压保护、缺水保护、门锁互锁及紧急泄压装置，确保操作人员与设备安全。

5. 数据追溯：内置历史数据存储与导出功能，支持USB接口或以太网远程监控，便于生成可靠性测试报告。

技术特点

• 独特风道设计：采用强制对流循环系统，确保腔体内温湿度分布高度均匀，避免局部冷凝。

• 高精度传感器：采用PT100温度传感器与干湿球/电子湿度传感器，控制精度高，响应速度快。

• 耐候性结构：门板与箱体采用双层硅胶密封条，耐高温高压不变形，长期使用无泄漏。

应用场景

• 半导体封测厂的质量检测中心

• 集成电路设计公司的失效分析实验室

• 科研院所与高校的微电子可靠性课题组

• 第三方检测认证机构（如SGS、CTI等）

• 电子与航天元器件的筛选车间