近日,广皓天自主研发的 HT-QSUN 系列氙灯老化试验箱,正式交付国内头部半导体封装企业并完成调试投用。此次合作将助力客户强化芯片封装户外可靠性验证能力,为工业控制、汽车电子等领域芯片的长期稳定应用筑牢测试根基。
随着半导体产业向高密度、微型化快速演进,芯片封装材料长期暴露于户外强光、温湿度循环等复杂环境时,易出现塑封料老化、引脚氧化、胶体开裂等问题,严重影响终端产品使用寿命。传统测试设备存在光照不均、光谱模拟精度不足等短板,难以精准复现户外老化工况,无法满足芯片严苛的可靠性要求。
广皓天 HT-QSUN 系列氙灯老化箱搭载核心光谱动态修正技术,可精准模拟全光谱太阳光,光谱匹配误差控制在 ±2.5% 以内,复刻紫外线至红外线的光照环境。设备采用定制化微型氙灯模组与高精度光学聚光系统,光照均匀度达 97% 以上,可精准聚焦微小芯片封装件,避免局部光照不均导致的测试偏差。同时集成温湿度协同控制系统,可同步模拟高温、高湿、雨水喷淋等工况,实现光、热、湿多应力耦合加速老化测试。
交付过程中,广皓天技术团队提供全流程专属服务,完成设备安装调试、操作培训及维护指导,确保设备快速适配客户研发与生产节奏。客户表示,该设备可将原本 7-10 天的户外老化测试周期缩短至 2-3 天,大幅提升研发效率,同时精准的测试数据为封装材料选型与工艺优化提供关键支撑。
此次合作是广皓天在半导体可靠性测试领域的重要突破。未来,广皓天将持续深耕电子测试设备赛道,以定制化解决方案与核心技术创新,助力半导体、新能源等行业客户提升产品可靠性,赋能产业高质量发展。



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