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Cassification
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高低温冷热冲击试验箱 电子元器件测试是一种专门用于模拟快速温度变化的可靠性环境试验设备。其核心功能是在最短时间内,使测试样品承受高温与低温之间的急剧转换,以检验电子元器件在温度剧变环境下的耐受能力及性能稳定性。
产品型号:TSD-80F-2P
厂商性质:生产厂家
更新时间:2026-01-15
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高低温冷热冲击试验箱,又称温度冲击试验箱或热冲击试验箱,是一种专门用于模拟快速温度变化的可靠性环境试验设备。其核心功能是在最短时间内,使测试样品承受高温与低温之间的急剧转换,以检验电子元器件在温度剧变环境下的耐受能力及性能稳定性。
该设备主要用于评估电子元器件、PCB电路板、集成电路、模块、汽车电子、电子等产品在突然遭遇高低温环境时的物理和电气性能变化。通过加速试验,可以在短时间内发现由材料不匹配、焊接缺陷、封装密封性不足等引起的潜在故障,是产品可靠性筛选和品质验证的关键手段。
主流的试验箱通常采用“三箱式"(预冷区、预热区、测试区)或“两箱式"(高温箱、低温箱)结构。测试时,样品通过一个提篮或移动平台,在高温室和低温室之间进行快速、自动转换。转换时间通常在数秒至一分钟内完成,从而实现温度从高(如+150°C)到极低(如-65°C)的瞬时冲击。
快速温变:采用高效的加热与制冷系统(如复叠式压缩机或液氮辅助),实现温度的急速升降。
高精度控制:采用PID+SSR智能控制,确保高低温槽及测试区的温度精度和均匀性。
自动化测试:通过触摸屏人机界面,可预设多达数百个冲击循环,全自动运行,并记录实时数据与曲线。
安全保护:具备完善的超温保护、压缩机延时保护、漏电保护等多重安全机制。
耐久设计:内胆采用高品质不锈钢,保温层加厚,确保设备长期稳定运行。
转换时间极短:空气式转换时间通常≤10秒,大限度模拟真实冲击。
宽广的温度范围:高温可达+200°C以上,低温可至-80°C或更低,满足各类严苛标准。
低热负荷设计:优化的风道与结构设计,确保样品在转换过程中承受真实温度冲击,而非仅受箱内空气影响。
符合国际标准:严格遵循IEC 60068-2-14、MIL-STD-883、JESD22-A104等电子行业通用测试标准。
温度范围:高温区:+60°C ~ +200°C;低温区:-10°C ~ -65°C 或更低
冲击范围:-40°C ~ +150°C(常用)
转换时间:≤10秒(试样从高温到低温或反之,空气式)
温度恢复时间:≤5分钟(恢复至设定温度)
温度波动度:±0.5°C
温度均匀度:±2.0°C
内箱尺寸:可根据需求定制(如40L, 80L, 100L等)







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