半导体集成快速温变试验箱

半导体集成快速温变试验箱

型号：TEA-600PF

技术参数：

1.温度范围：-0℃～150℃
2.湿度范围：20%～98%R.H
3.温度均匀度：≤±2℃（空载时）
4.湿度均匀度：+2%-3%R.H
5.温度波动度：≤±0.5℃（空载时）
6.湿度波动度：±2%
7.温度偏差：≤±2℃
8.湿度偏差：≤±2%
9.降温速率：0.7～1.0℃/min
10.升温速率：1.0～3.0℃/min
11.时间设定范围：0～999小时
12.电源电压：380V±10%
13.设备总功率：3KW～15KW

半导体集成快速温变试验箱

特性:
1）圆弧造型设计，外观质感高水准,美观大方,并采用平面无反作用把手，操作容易。

2）进口型多功能, 扩展性强之温度控制器,操作简单,学习容易, 控制稳定可靠.可供低温及超低温双重试验。

3）可靠优良的均匀送风循环系统 长轴马达顶部垂直安装，防止因长期连续运转而导致的马达主轴偏心。

4）进口离心风机结合水平及垂直角度可调双层百叶强制送风循环设计，可避免箱内的气流死角,保证箱内每个角落温湿度 均匀度更加*。

5）宽敞明亮之大型电热观察视窗：由三层超大型真空镀膜（加热膜）视窗及高亮度荧光灯组合而成，可清楚观察箱内试验样品，并有效防止因内外温差而引起的水雾形成，让使用者可随时观测试验箱内的状况。

6）先进的安全，保护装置－漏电断路器、干烧保护器、缺相保护器、制冷机组超压、过载、油压等保护装置

7）先进可靠的冷冻系统，欧美全密闭压缩机. 采用全毛细管，自动负载容量调整系统技术，较以往膨胀伐系统更稳定可靠.温湿度控制更精确，升降温速度快速、平稳均匀，为使用者节约宝贵时间。