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三厢式冷热冲击试验机 温度冲击实验箱

三厢式冷热冲击试验机 温度冲击实验箱
适用于电子晶片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉

  • 产品型号:TSD-150F-3P
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2025-03-20
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详细介绍

三厢式冷热冲击试验机 温度冲击实验箱

用途:

1、电子电器零组件:测试电子元件在温度急剧变化下的性能,以评估其可靠性和耐用性。
2、自动化零部件:确保自动化系统中使用的部件能够在温度下正常工作。

3、通讯组件:对通讯设备进行温度冲击测试,以保证其在不同温度环境下的通信质量。
4、汽车配件:测试汽车零部件在极寒或极热环境下的性能,以确保车辆在气候下的安全和性能。
5、金属、化学材料、塑胶等行业:评估这些材料在温度冲击下的物理和化学性质变化。
6、国防工业、航天、兵工业:对军事和航天设备进行严格的温度冲击测试,以确保其在战场或太空环境中的稳定性。
7、半导体和高分子材料:测试这些材料在温度冲击下的物理变化,以评估其适应性和可靠性。
8、科技研发:在产品研发阶段,帮助工程师发现潜在的设计缺陷和性能瓶颈,确保产品在条件下的稳定性。


三厢式冷热冲击试验机 温度冲击实验箱

技术参数:

1.温度范围:-40℃~150℃
2.湿度范围:20%~98%R.H
3.温度均匀度:≤±2℃(空载时)
4.湿度均匀度:+2%-3%R.H
5.温度波动度:≤±0.5℃(空载时)
6.湿度波动度:±2%
7.温度偏差:≤±2℃
8.湿度偏差:≤±2%
9.降温速率:0.7~1.0℃/min
10.升温速率:1.0~3.0℃/min
11.时间设定范围:0~999小时
12.电源电压:380V±10%
13.设备总功率:3KW~15KW


执行满足标准及试验方法

GB11158-2008高温试验箱技术条件

GB10589-2008低温试验箱技术条件

GB10592-2008高低温试验箱技术条件(温度交变)

GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分:试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:高温试验

GJB150.4A-2009装备实验室环境试验方法第3部分:低温试验

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