冷热冲击试验箱 电子元器件设备

冷热冲击试验箱 电子元器件设备

高低温冷热冲击试验箱是一种广泛应用于各种工业领域的测试设备，其性能稳定、坚固耐用的特点使得它在各种环境条件下都能够保持出色的表现。

冷热冲击试验箱 电子元器件设备

型号：TSD-36F-2P   温度范围：-20～150℃

2.工作室温度范围：0;-20;-40;-60;-70～+100℃(150℃)

3.湿度范围： 20%～98% R.H（温度在25℃～80℃时）（可设定恒湿）

4.温度均匀度： ≤±2℃ （空载时）

5.湿度均匀度： ≤+2% ~ -3% R.H

6.温度波动度： ≤±0.5℃（空载时）

7.湿度波动度： ≤±2% 

8.温度偏差： ≤±2℃ （空载时）

9.湿度偏差： ±2.5%R.H(湿度≥75%R.H)   ±3%R.H(湿度≤75%R.H)

10、降温速率：0.7～1.2℃/min  

11、升温速度：1.0～3.0℃/min12、时间设定范围：  0～9999 小时

13、温度交变范围：-20;-40;-60;-70；-100℃～100℃(150℃)（自定）

14、湿度交变范围：30%～98% R.H（自定）

高低温冷热冲击试验箱以其性能稳定、坚固耐用的特点在各种工业领域中发挥着重要作用。通过使用该设备进行产品测试，企业可以更加准确地评估产品在各种环境条件下的性能表现，提高产品质量和市场竞争力。