一、数据记录方法
（一）设备自带记录系统
多数冷热冲击试验箱配备内置数据记录装置。该装置能自动记录试验全程的关键数据，像温度变化曲线（涵盖升温、降温速率，高低温保持阶段的温度波动）、试验起始与结束时间、循环次数等。以某试验箱为例，其通过高精度温度传感器，每秒采集一次温度数据，并存储于设备内存，可存储长达一个月的试验数据。用户能在设备操作界面便捷查询过往试验数据，还可按日期、试验编号等条件筛选。 （二）外接数据采集设备
为获取更全面、精确的数据，常外接数据采集设备，如数据采集卡搭配专业数据采集软件。将多个高精度热电偶或温度传感器按特定布局安置在试验箱内，连接至数据采集卡。传感器将温度信号转化为电信号，数据采集卡以设定频率（如每秒 10 次）高速采集，再传输至电脑，由专业软件记录、存储。在航空航天零部件测试中，为精准掌握部件各部位在冷热冲击下的温度变化，在部件关键部位布置 10 个传感器，用外接数据采集设备记录，生成详尽温度变化图谱。
（三）人工记录辅助
在一些对特定现象需详细记录的试验里，人工记录作为辅助手段。操作人员在试验期间定时观察并记录样品外观变化，如是否出现裂纹、变形、变色，电子产品性能有无异常（如短路、断路、信号传输故障）等。在新材料研发测试时，人工每 30 分钟记录一次样品外观，结合设备自动记录的温度数据，综合分析材料性能变化。
二、数据分析方法
（一）趋势分析
通过绘制温度 - 时间曲线，分析产品在整个试验过程中的温度响应趋势。从曲线能直观看出产品升温、降温是否顺畅，各阶段温度保持是否稳定。若在某循环中，升温时间明显延长，可能暗示试验箱加热系统有问题；产品在高温保持阶段温度波动超出允许范围，会影响产品性能评估准确性，需排查原因，如传感器故障、加热丝老化。
（二）对比分析
将试验数据与产品设计标准、过往试验数据对比。把新产品测试数据与设计要求的温度范围、循环次数下的性能指标对比，判断产品是否达标。也可对比同一产品不同批次试验数据，监控产品质量稳定性。若某批次产品在冷热冲击后性能下降幅度比之前批次大很多，要深入排查生产环节差异，如原材料质量波动、工艺参数改变。
（三）失效分析
针对试验中出现性能失效的产品，结合数据进行失效分析。依据记录的温度变化、样品外观及性能数据，确定失效是由高温、低温还是温度冲击引起，定位失效部件或材料。在电子产品测试中，若试验后某芯片功能异常，通过分析数据发现芯片所在区域在低温冲击时温度超设计下限，可能是低温导致芯片内部电路损坏，为产品改进提供方向，如优化芯片散热设计、选用更耐低温材料。
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更新时间：2025-05-15 
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